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數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）
型號：KDKLT-200 |
貨號：ZH8204 |
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產(chǎn)品簡介: 數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀是按照半導(dǎo)體設(shè)備和材料（MF28-0707、MF1535-0707）及GB/T1553的要求。采用高頻光電導(dǎo)衰減測量方法，適用于測量鑄造多晶和硅晶體載流子復(fù)合壽命。 規(guī)格參數(shù)： 少子壽命測量范圍：0.25μS-10ms 電阻率下限：≥0.3Ω·cm 測量型號：N型或P型單晶或鑄造多晶 光脈沖發(fā)生裝置 重復(fù)頻率：＞15次/S 脈寬范圍：≥10μs 紅外光源波長：1.06-1.08μm 脈沖電流：5A-16A 紅外光源短波長：0.904-0.905μm 脈沖電流：5A-16A 高頻源 頻率范圍：30MHz 輸出功率：＞1W 放大器、檢波器 頻率響應(yīng)：2Hz-2MHz 放大倍數(shù)：約30倍 光源電極臺：測量低阻樣片用；可測縱向放置的單晶、測量豎放單晶橫截面的壽命。 電極背光燈：當(dāng)光電導(dǎo)衰退波形出現(xiàn)陷阱效應(yīng)時，開啟背光燈后曲線尾部逐漸下降，此時讀出的衰退時間接近壽命值。 讀數(shù)方式：可選配測試軟件或數(shù)字示波器讀數(shù) 測試軟件：具有自動保存數(shù)據(jù)及測試點衰減波形，可進行查詢歷史數(shù)據(jù)和導(dǎo)出歷史數(shù)據(jù)等操作。
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